電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗國家標準目錄

GB/T 2421－1999  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第1部分：總則
GB/T 2422－1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  術(shù)語
GB/T 2423.1－2001  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗A：低溫
GB/T 2423.2－2001  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 2423.3－2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗cab：恒定濕熱試驗
GB/T 2423.4  1993  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗Db：交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.5－1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Ea和導(dǎo)則：沖擊
GB/T 2423.6－1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Eb和導(dǎo)則：碰撞
GB/T 2423.7－1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ec和導(dǎo)則：傾跌與翻倒（主要用于設(shè)備型樣品）
GB/T 2423.8－1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法  試驗Ed：自由跌落
GB/T 2423.10－1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Fc和導(dǎo)則：振動（正弦）
GB/T 2423.15－1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法  試驗Ga和導(dǎo)則：穩(wěn)態(tài)加速度
GB/T 2423.16－1999  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗J和導(dǎo)則：長霉
GB/T 2423.17－1993  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗Ka：鹽霧試驗方法
GB/T 2423.18－2000  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
GB/T 2423.21－199l  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法
GB/T 2423.22－2002  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法  試驗N：溫度變化
GB/T 2423.23－1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  試驗Q：密封
GB/T 2423.24－1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法  試驗Sa：模擬地面上的太陽輻射
GB/T 2423.25－1992  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26－1992  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.27－2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法  試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗
GB/T 2423.28－2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗T：錫焊
GB/T 2423.30－1999  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗XA和導(dǎo)則：在清洗劑中浸漬
GB/T 2423.31－1985  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程傾斜和搖擺試驗方法
GB/T 2423.32－1985  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  潤濕稱量法可焊性試驗方法（GB/T 2423.33－2005 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Kca：高濃度二氧化硫試驗
GB/T 2423.34－2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Z/AD：溫度/濕度組合循環(huán)試驗
GB/T 2423.35－2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Z/AFc：散熱和非散熱試驗樣品的低溫/振動（正弦）綜合試驗
GB/T 2423.36－2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法  試驗Z/BFc：散熱和非散熱試驗樣品的高溫/振動（正弦）綜合試驗
GB/T 2423.37－2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗L：沙塵試驗
GB/T 2423.38－2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗R：水試驗方法和導(dǎo)則
GB/T 2423.39－1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  試驗Ee：彈跳試驗方法
GB/T 2423.40－1997  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Cx：未飽和高壓蒸汽恒定濕熱
GB/T 2423.41－1994  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  風(fēng)壓試驗方法
GB/T 2423.42－1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法
GB/T 2423.43－1995  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea）、碰撞（Eb）、振動（Fc和Fd）和穩(wěn)態(tài)加速度（Ga）等動力學(xué)試驗中的安裝要求和導(dǎo)則
GB/T 2423.45－1997  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗z/ABDM：氣候順序
GB/T 2423.47－1997  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法  試驗Fg：聲振
GB/T 2423.48－1997  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Ff：振動--時間歷程法
GB/T 2423.49－1997  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Fe：振動--正弦拍頻法
GB/T 2423.50－1999  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法  試驗cy：恒定濕熱主要用于元件的加速試驗
GB/T 2423.51－2000  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗Ke：流動混合氣體腐蝕試驗
GB/T 2423.52－2003  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗77：結(jié)構(gòu)強度與撞擊
GB/T 2423.53－2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗xb：由手的摩擦造成標記和印刷文字的磨損
GB/T 2423.54－2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  第2部分：試驗方法  試驗xc：流體污染
GB/T 2423.55－2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Eh：錘擊試驗
GB/T 2423.56－2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法試驗Fh：寬帶隨機振動（數(shù)字控制）和導(dǎo)則
GB/T 2424.1－2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  高溫低溫試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.2－2005  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  濕熱試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.5－2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  溫度試驗箱性能確認
GB/T 2424.6－2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  溫度/濕度試驗箱性能確認
GB/T 2424.7－2006  電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗  試驗A和B（帶負載）用溫度試驗箱的測量
GB/T 2424.10－1993  電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程  大氣腐蝕加速試驗的通用導(dǎo)則
GB/T 2424.11-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和鏈接件的二氧化硫試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.12-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 接觸點和連接件的硫化氫試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.13-81 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度變化試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.14-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 第2部分 ：試驗方法 太陽輻射試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.15-92 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.17-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 錫焊試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.18-82 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 在清洗濟中浸漬試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.19-84 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 模擬儲存影響的環(huán)境試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.20-85 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.21-85電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.22-86電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（低溫、高溫）和振動（正 玄）綜合試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.23-90電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 水試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.24-1995 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正玄）綜合試驗導(dǎo)則
GB/T 2424.25-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第三部分：試驗導(dǎo)則 地震試驗方法